形狀測量激光顯微系統

VK-X 系列

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形狀測量激光顯微系統 VK-X 系列

VK-X 系列 - 形狀測量激光顯微系統

細微表面形狀差異數值化的非接觸式粗糙度儀已至佳境。

產品特性

  • 從50 mm 到1 nm 的高精度測量
  • 測量區域 傳統產品的16 倍* *與VK-X250的比較
  • 測量時間 最快5 秒

推薦

全新產品

搭載白光干涉儀，可應對從納米到毫米級別的測量

VK-X3000 系列 - 形狀測量激光顯微系統

  • 納米/微米/毫米一臺即可完成測量
  • 通過三重掃描方式發揮更強大的測量能力
  • 實現目標樣品的臺階高度、平整度、粗糙度、膜厚等測量

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